検査装置のご紹介|超高速、高精度検査

NF/ISシステムは超高速かつ高精度の検査が特徴の検査機器です。光学フィルム、PPフィルム、ガラスといった製品の検査に対応しています。高速なだけではなく、安定性も申し分ありません。こちらのページでは、「フロンティアシステム」が「NF/ISシステム」の特徴や仕様などについてご紹介します。

NF/ISシステム

概要~高速で高精度な両立した検査を実現~

特徴

特徴

  • 高速CMOS搭載デジタルカメラ
  • 動的シェーディング機能
  • エッジ追従機能
  • 5×5空間フィルタ
  • ビューアソフト・解析ソフト等、さまざまなオプションソフトを追加可能
ターゲット

ターゲット

  • 光学フィルム
  • PPフィルム
  • ガラス
  • EVAシート
  • 金属箔
  • ウレタン
  • ガラスクロス
  • 高速ラインで生産される無地シート

システム~高速なだけではない全システムを凌駕した高機能性~

システムイメージ

システムイメージ

ハードウェア~安定の画像処理を可能にするユニーク設計~

カメラ

カメラ

  • デジタルCOMSセンサ
  • 640MHzクロック
  • 高感度4096~8192画素
照明

照明

  • 用途に合わせたさまざまな光源
  • 自社製LED照明
  • 高周波蛍光灯
  • ハロゲンファイバー
画像処理ユニット

画像処理ユニット

  • PCIEXバス対応
  • リアルタイム並列処理
  • 独自画像処理エンジン
  • 各種フィルタ回路

ソフトウェア~マルチな機能と簡単操作~

検査ソフト

検査ソフト

  • 検出欠点リアルタイム表示
  • 過去欠点サムネイル表示
  • 欠点サイズ別マップ表示
サーバ・ビューアソフト

サーバ・ビューアソフト

  • 検出欠点リアルタイム表示
  • 過去情報閲覧機能
  • 欠点サイズ別マップ表示
  • 全カメラネットワーク監視
解析ソフト

解析ソフト

  • 波形による解析
  • 検査シミュレーション機能
  • 3D画像表示
  • 欠点サイズ解析

サンプル実験例

フィルム欠点検出画像一例
  • 原料異常元画像

    原料異常元画像

  • 原料異常処理画像

    原料異常処理画像

  • 汚れ元画像

    汚れ元画像

  • 汚れ処理画像

    汚れ処理画像

  • シワ元画像

    シワ元画像

  • シワ処理画像

    シワ処理画像

  • 虫元画像

    虫元画像

  • 虫処理画像

    虫処理画像

  • フィッシュアイ元画像

    フィッシュアイ元画像

  • フィッシュアイ処理画像

    フィッシュアイ処理画像

  • フィッシュアイ元画像

    フィッシュアイ元画像

  • フィッシュアイ処理画像

    フィッシュアイ処理画像

  • フィッシュアイ元画像

    フィッシュアイ元画像

  • フィッシュアイ処理画像

    フィッシュアイ処理画像

  • フィッシュアイ元画像

    フィッシュアイ元画像

  • フィッシュアイ処理画像

    フィッシュアイ処理画像

ガラス欠点検出画像一例
  • 縦キズ元画像

    縦キズ元画像

  • 縦キズ処理画像

    縦キズ処理画像

  • 内面キズ元画像

    内面キズ元画像

  • 内面キズ処理画像

    内面キズ処理画像

  • 異物元画像(顕微鏡)

    異物元画像(顕微鏡)

  • 異物処理画像(顕微鏡)

    異物処理画像(顕微鏡)

  • へこみ元画像(顕微鏡)

    へこみ元画像(顕微鏡)

  • へこみ処理画像(顕微鏡)

    へこみ処理画像(顕微鏡)

紙欠点検出画像一例
  • 虫欠点元画像

    虫欠点元画像

  • 虫欠点処理画像

    虫欠点処理画像

  • 微小異物元画像

    微小異物元画像

  • 汚れ処理画像

    汚れ処理画像

  • キズ元画像

    キズ元画像

  • キズ処理画像

    キズ処理画像

  • やぶれ元画像

    やぶれ元画像

  • やぶれ処理画像

    やぶれ処理画像

不織布欠点検出画像一例
  • 白点元画像

    白点元画像

  • 白点処理画像

    白点処理画像

  • 穴元画像

    穴元画像

  • 汚れ処理画像

    汚れ処理画像

  • 固まり元画像

    固まり元画像

  • 固まり処理画像

    固まり処理画像

  • 地合いムラ元画像

    地合いムラ元画像

  • 地合いムラ処理画像

    地合いムラ処理画像

実績・検査事例

応用

応用 特徴
  • 1μm単位での検査
  • オートフォーカス機能
  • 目視確認用エリアカメラ
  • 高速システムとの併用によるスピード検査
ターゲット
  • タッチパネルガラス
  • 半導体関連
  • その他、人間の目では見ることのできない微小欠陥
タッチパネルガラスキズ欠陥 画像撮像例
応用

オプション

オプション ペンマーカ FPM-2000
速乾性の赤マジックにて点マークおよび連続マークが可能です。スタート時および待機時は、シートから一定の距離で保ちますので製品を傷つけません。
オプション
オプション ラベラ FRA-1000/2000
欠陥検査システムツールとして開発されたもので、標識赤ラベルを欠陥部位のシートエッジに自動貼付します。オプションでワンタッチ交換できるアダプタがあります。
オプション
オプション 高輝度LED照明 R-Wide LED100~3500
安定した白色高輝度LED照明で放熱対策も万全です。 製品幅が100mm~3500mmと豊富なバリエーションを誇ります。
オプション
オプション 自動調光コントローラ FJC-2000
下図構造によりカメラが感知する光量を一定に維持する機構です。
オプション

検査装置のご紹介

  • 画像処理ユニット型検査KE/XGシステム
  • 超高速、高精度検査NF/ISシステム
  • 要望に合わせた完全開発装置ZD/HCシステム